Analysis of high resistivity semiconductor specimens in an energy-compensated time-of-flight atom probe

A. J. Melmed, M. Martinka, S. M. Girvin, T. Sakurai, Y. Kuk

    研究成果: Article査読

    24 被引用数 (Scopus)

    フィンガープリント

    「Analysis of high resistivity semiconductor specimens in an energy-compensated time-of-flight atom probe」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

    Physics

    Material Science