A theoretical analysis of electromigration failure in aluminum interconnections

Takenao Nemoto, A. Toshimitsu Yokobori, Tsutomu Murakawa

    研究成果: Article査読

    7 被引用数 (Scopus)

    フィンガープリント

    「A theoretical analysis of electromigration failure in aluminum interconnections」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

    Engineering & Materials Science

    Physics & Astronomy