A simple test structure for evaluating the variability in key characteristics of a large number of MOSFETs

Shunichi Watabe, Akinobu Teramoto, Kenichi Abe, Takafumi Fujisawa, Naoto Miyamoto, Shigetoshi Sugawa, Tadahiro Ohmi

研究成果: Article査読

4 被引用数 (Scopus)

フィンガープリント

「A simple test structure for evaluating the variability in key characteristics of a large number of MOSFETs」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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