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1989 …2020

年単位の研究成果

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研究成果

A High Near-Infrared Sensitivity over 70-dB SNR CMOS Image Sensor with Lateral Overflow Integration Trench Capacitor

Murata, M., Kuroda, R., Fujihara, Y., Otsuka, Y., Shibata, H., Shibaguchi, T., Kamata, Y., Miura, N., Kuriyama, N. & Sugawa, S., 2020 4 1, : : IEEE Transactions on Electron Devices. 67, 4, p. 1653-1659 7 p., 9031733.

研究成果: Article

  • 公開
  • 公開
  • Effect of Drain-to-Source Voltage on Random Telegraph Noise Based on Statistical Analysis of MOSFETs with Various Gate Shapes

    Akimoto, R., Kuroda, R., Teramoto, A., Mawaki, T., Ichino, S., Suwa, T. & Sugawa, S., 2020 4, 2020 IEEE International Reliability Physics Symposium, IRPS 2020 - Proceedings. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., 9128341. (IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings; 巻数 2020-April).

    研究成果: Conference contribution