年別の研究成果
年別の研究成果
フィンガープリント
Hiroki Koikeが活動している研究トピックを掘り下げます。このトピックラベルは、この研究者の研究成果に基づきます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。
- 6 類似のプロファイル
ネットワーク
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研究成果
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40-nm 1T-1MTJ 128Mb STT-MRAM with Novel Averaged Reference Voltage Generator Based on Detailed Analysis of Scaled-Down Memory Cell Array Design
Koike, H., Tanigawa, T., Watanabe, T., Nasuno, T., Noguchi, Y., Yasuhira, M., Yoshiduka, T., Ma, Y., Honjo, H., Nishioka, K., Miura, S., Inoue, H., Ikeda, S. & Endoh, T., 2020, (Accepted/In press) In: IEEE Transactions on Magnetics.研究成果: Article › 査読
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12.1 An FPGA-Accelerated Fully Nonvolatile Microcontroller Unit for Sensor-Node Applications in 40nm CMOS/MTJ-Hybrid Technology Achieving 47.14μW Operation at 200MHz
Natsui, M., Suzuki, D., Tamakoshi, A., Watanabe, T., Honjo, H., Koike, H., Nasuno, T., Ma, Y., Tanigawa, T., Noguchi, Y., Yasuhira, M., Sato, H., Ikeda, S., Ohno, H., Endoh, T. & Hanyu, T., 2019 3 6, 2019 IEEE International Solid-State Circuits Conference, ISSCC 2019. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., p. 202-204 3 p. 8662431. (Digest of Technical Papers - IEEE International Solid-State Circuits Conference; vol. 2019-February).研究成果: Conference contribution
10 被引用数 (Scopus) -
14ns write speed 128Mb density Embedded STT-MRAM with endurance>10 10 and 10yrs retention@85°C using novel low damage MTJ integration process
Sato, H., Honjo, H., Watanabe, T., Niwa, M., Koike, H., Miura, S., Saito, T., Inoue, H., Nasuno, T., Tanigawa, T., Noguchi, Y., Yoshiduka, T., Yasuhira, M., Ikeda, S., Kang, S. Y., Kubo, T., Yamashita, K., Yagi, Y., Tamura, R. & Endoh, T., 2019 1 16, 2018 IEEE International Electron Devices Meeting, IEDM 2018. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., p. 27.2.1-27.2.4 8614606. (Technical Digest - International Electron Devices Meeting, IEDM; vol. 2018-December).研究成果: Conference contribution
10 被引用数 (Scopus) -
A 47.14-μW 200-MHz MOS/MTJ-Hybrid Nonvolatile Microcontroller Unit Embedding STT-MRAM and FPGA for IoT Applications
Natsui, M., Suzuki, D., Tamakoshi, A., Watanabe, T., Honjo, H., Koike, H., Nasuno, T., Ma, Y., Tanigawa, T., Noguchi, Y., Yasuhira, M., Sato, H., Ikeda, S., Ohno, H., Endoh, T. & Hanyu, T., 2019, In: IEEE Journal of Solid-State Circuits. 54, 11, p. 2991-3004 14 p., 8796413.研究成果: Article › 査読
13 被引用数 (Scopus) -
Accurate error bit mode analysis of STT-MRAM chip with a novel current measurement module implemented to gigabit class memory test system
Tamura, R., Mori, I., Watanabe, N., Koike, H. & Endoh, T., 2019 1 4, NVMTS 2018 - Non-Volatile Memory Technology Symposium 2018. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., 8603113. (NVMTS 2018 - Non-Volatile Memory Technology Symposium 2018).研究成果: Conference contribution