Measurement of the inclusive semielectronic [Formula presented] branching fraction

Y. Kubota, M. Lattery, J. K. Nelson, S. Patton, R. Poling, T. Riehle, V. Savinov, R. Wang, M. S. Alam, I. J. Kim, Z. Ling, A. H. Mahmood, J. J. O'Neill, H. Severini, C. R. Sun, S. Timm, F. Wappler, G. Crawford, J. E. Duboscq, R. FultonD. Fujino, K. K. Gan, K. Honscheid, H. Kagan, R. Kass, J. Lee, M. Sung, C. White, R. Wanke, A. Wolf, M. M. Zoeller, X. Fu, B. Nemati, W. R. Ross, P. Skubic, M. Wood, M. Bishai, J. Fast, E. Gerndt, J. W. Hinson, T. Miao, D. H. Miller, M. Modesitt, E. I. Shibata, I. P.J. Shipsey, P. N. Wang, L. Gibbons, S. D. Johnson, Y. Kwon, S. Roberts, E. H. Thorndike, T. E. Coan, J. Dominick, V. Fadeyev, I. Korolkov, M. Lambrecht, S. Sanghera, V. Shelkov, R. Stroynowski, I. Volobouev, G. Wei, M. Artuso, M. Gao, M. Goldberg, D. He, N. Horwitz, S. Kopp, G. C. Moneti, R. Mountain, F. Muheim, Y. Mukhin, S. Playfer, T. Skwarnicki, S. Stone, X. Xing, J. Bartelt, S. E. Csorna, V. Jain, S. Marka, D. Gibaut, K. Kinoshita, P. Pomianowski, S. Schrenk, B. Barish, M. Chadha, S. Chan, D. F. Cowen, G. Eigen, J. S. Miller, C. O'Grady, J. Urheim, A. J. Weinstein, F. Würthwein, D. M. Asner, M. Athanas, D. W. Bliss, W. S. Brower, G. Masek, H. P. Paar, J. Gronberg, C. M. Korte, R. Kutschke, S. Menary, R. J. Morrison, S. Nakanishi, H. N. Nelson, T. K. Nelson, C. Qiao, J. D. Richman, D. Roberts, A. Ryd, H. Tajima, M. S. Witherell, R. Balest, K. Cho, W. T. Ford, M. Lohner, H. Park, P. Rankin, J. Roy, J. G. Smith, J. P. Alexander, C. Bebek, B. E. Berger, K. Berkelman, K. Bloom, T. E. Browder, D. G. Cassel, H. A. Cho, D. M. Coffman, D. S. Crowcroft, M. Dickson, P. S. Drell, D. J. Dumas, R. Ehrlich, R. Elia, P. Gaidarev, B. Gittelman, S. W. Gray, D. L. Hartill, B. K. Heltsley, S. Henderson, C. D. Jones, S. L. Jones, J. Kandaswamy, N. Katayama, P. C. Kim, D. L. Kreinick, T. Lee, Y. Liu, G. S. Ludwig, J. Masui, J. Mevissen, N. B. Mistry, C. R. Ng, E. Nordberg, J. R. Patterson, D. Peterson, D. Riley, A. Soffer, C. Ward, P. Avery, A. Freyberger, K. Lingel, C. Prescott, J. Rodriguez, S. Yang, J. Yelton, G. Brandenburg, D. Cinabro, T. Liu, M. Saulnier, R. Wilson, H. Yamamoto, T. Bergfeld, B. I. Eisenstein, J. Ernst, G. E. Gladding, G. D. Gollin, M. Palmer, M. Selen, J. J. Thaler, K. W. Edwards, K. W. McLean, M. Ogg, A. Bellerive, D. I. Britton, E. R.F. Hyatt, R. Janicek, D. B. MacFarlane, P. M. Patel, B. Spaan, A. J. Sadoff, R. Ammar, P. Baringer, A. Bean, D. Besson, D. Coppage, N. Copty, R. Davis, N. Hancock, S. Kotov, I. Kravchenko, N. Kwak

Research output: Contribution to journalArticlepeer-review

11 Citations (Scopus)

Fingerprint Dive into the research topics of 'Measurement of the inclusive semielectronic [Formula presented] branching fraction'. Together they form a unique fingerprint.

Physics & Astronomy