Analyzing-power measurement in inclusive 0 production at high xF

B. E. Bonner, J. A. Buchanan, D. C. Carey, J. M. Clement, R. N. Coleman, M. D. Corcoran, J. D. Cossairt, A. A. Derevshchikov, D. P. Grosnick, D. A. Hill, K. Imai, F. Lehar, A. De Lesquen, D. Lopiano, F. C. Luehring, J. W. Kruk, K. Kuroda, T. Maki, S. Makino, A. MasaikeYu A. Matulenko, A. P. Meshchanin, A. Michalowicz, H. E. Miettinen, D. H. Miller, K. Miyake, A. H. Mohammadzadeh, G. S. Mutchler, T. Nagamine, F. Nessi-Tedaldi, M. Nessi, S. B. Nurushev, C. Nguyen, Y. Ohashi, G. Pauletta, A. Penzo, G. C. Phillips, A. L. Read, J. B. Roberts, L. Van Rossum, G. Salvato, P. Schiavon, T. Shima, V. L. Solovyanov, H. M. Spinka, R. W. Stanek, P. M. Stevenson, R. Takashima, F. Takeuchi, D. G. Underwood, A. N. Vasiliev, A. Villari, J. L. White, A. Yokosawa, T. Yoshida, A. Zanetti, Q. Zhu

Research output: Contribution to journalArticlepeer-review

31 Citations (Scopus)

Fingerprint

Dive into the research topics of 'Analyzing-power measurement in inclusive 0 production at high xF'. Together they form a unique fingerprint.

Physics & Astronomy